菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHER XDL230，菲希尔XDL230 是台式能量色散 XRF 镀层测厚分析仪，XDL 系列中端机型，手动 XY 平台 + 电动 Z 轴，主打复杂异形件、多层镀层无损测厚，兼容镀层测厚 + 材料成分分析，符合 ISO3497、ASTM B568 标准

FISCHER XAN500菲希尔X射线测厚仪，定位：手持可转台式两用 XRF 设备，无损镀层测厚 + 材料成分分析，适合大型工件、现场巡检、电镀车间现场检测，满足 DIN ISO 3497、ASTM B568 标准

菲希尔XDLM237 X射线镀层测厚仪，微聚焦全自动 X 射线荧光镀层测厚仪（EDXRF），XDLM 系列顶配自动化机型，M 代表Microfocus 微聚焦光管，主打微小触点、连接器、PCB 精细镀层无损测厚 + 合金成分分析，支持大批量全自动扫描检测，测量光束从上往下垂直照射，适配异形、凸起、腔体零件

菲希尔Fischer X射线测厚仪XAN500，菲希尔（Fischer）XAN500 是一款旗舰级手持式 X 射线荧光（XRF）测厚仪，核心优势是能在单次测量中同时获取涂层厚度和材料成分数据

菲希尔FISCHER XDL230，菲希尔 XDL230 是一款德国菲希尔（Helmut Fischer）生产的能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）测厚仪，用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析

菲希尔X射线镀层测厚仪 XDLM237，菲希尔 XDLM237 是德国菲希尔（Fischer）推出的一款能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）镀层测厚及材料分析仪，属于 XDLM 系列中的高配全自动型号

FISCHER X射线测厚仪 XDLM237，菲希尔 XDLM237 是一款用于超薄镀层测厚及材料分析的台式能量色散型 X 射线荧光光谱仪（EDXRF）。它的核心定位是全自动、高精度的微小区域镀层检测，尤其适合 PCB、电子元器件和接插件的大批量质量控制

菲希尔涂层非接触X射线测厚仪 菲希尔涂层非接触 X 射线测厚仪基于 X 射线与物质的相互作用原理。当 X 射线照射到被测物体表面时，一部分 X 射线会被涂层吸收和散射，另一部分则会穿透涂层到达基体。通过测量穿透涂层的 X 射线强度，并与已知厚度的标准样品进行对比，就可以精确计算出涂层的厚度。

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230测厚仪，菲希尔XDL230 是德国Helmut Fischer集团旗下的一款能量色散型X射线荧光（ED-XRF）镀层测厚及材料分析仪，型号为FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

能量色散 X 射线荧光 EDXRF，无损检测；测量方向从上向下照射，适合异形件、高低落差样品，台式上掀式防护舱。 定位：XDL 系列主力手动机型，手动 XY 工作台 + 电动 Z 轴，用于来料检验、电镀厂质控、PCB、连接器、装饰镀层检测