fischer xdlm 237x射线荧光镀层测厚仪 有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪 是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

X射线荧光镀层测厚仪helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。

德国菲希尔镀层测厚仪xdv-μ-pcb XDV-μ型系列仪器是专为在很微小结构上进行高精度镀层厚度测星和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜, 光斑直径（ FWHM ）可达10至60μm。

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菲希尔涂层非接触X射线测厚仪 菲希尔涂层非接触 X 射线测厚仪基于 X 射线与物质的相互作用原理。当 X 射线照射到被测物体表面时，一部分 X 射线会被涂层吸收和散射，另一部分则会穿透涂层到达基体。通过测量穿透涂层的 X 射线强度，并与已知厚度的标准样品进行对比，就可以精确计算出涂层的厚度。

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