FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210 菲希尔X射线镀层测厚仪是一款专为高精度、非破坏性镀层厚度测量和材料成分分析而设计的台式仪器，其典型应用领域和设计理念如下：

一、典型应用领域

大规模生产的电镀部件测量

适用于汽车、五金、卫浴等行业中大批量电镀零件的质量控制，如锌、镍、铬等多层镀层的厚度检测。

薄镀层的精确测量

特别适合测量装饰性镀层（如装饰铬、金、银等），即使镀层厚度仅为几纳米也能实现高精度测量。

电子与半导体工业中的功能性镀层分析

可用于测量PCB（印刷线路板）上的铜、锡、金、钯等关键功能性镀层，确保电气性能和可靠性。

全自动测量任务

配合马达驱动的X-Y平台和激光定位系统，可实现对印刷线路板等复杂样品的自动多点测量，提升效率与重复性。

电镀溶液成分分析（间接应用）

虽然XDL-210主要用于固体样品，但通过测量标准样品或沉积层，可间接评估电镀液中金属离子浓度的变化趋势，辅助工艺控制。