菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL240关键亮点

全自动操作：电动 X/Y 工作台与可编程 Z 轴，保护门开启即自动回位放样，提升效率。

深腔适配：DCM 距离补偿法轻松应对 80 mm 深腔样品，解决常规测厚难点。

多镀层与元素：覆盖 Ti–U，支持多层结构分析，适合复杂电镀与功能性镀层。

高精度与稳定：比例探测器配合三档高压与可切换滤片，金层 60 秒重复性优于 1%。

可视化定位：内置 40–160 倍 CCD 摄像头 + 激光指针，快速精准定位测量点。

安全合规：整机辐射安全联锁，符合德国 RöV 与国际标准，使用放心。

典型应用

大规模电镀件质检、装饰铬等超薄镀层测量；

电子 / 半导体功能性镀层（如 PCB、连接器）；

全自动批量测量与电镀溶液分析。

选购与使用提示

准直器可选 Ø0.1/0.2 mm 圆形或 0.3×0.05 mm 狭缝，适配微小或特殊结构；

搭配 WinFTM® 软件完成数据采集与分析，支持标准报告与数据导出；

工作温湿度 10–40°C、≤95%（无结露），存储 0–50°C，需稳定供电与良好接地。