菲希尔XDLM237 X射线镀层测厚仪，微聚焦全自动 X 射线荧光镀层测厚仪（EDXRF），XDLM 系列顶配自动化机型，M 代表Microfocus 微聚焦光管，主打微小触点、连接器、PCB 精细镀层无损测厚 + 合金成分分析，支持大批量全自动扫描检测，测量光束从上往下垂直照射，适配异形、凸起、腔体零件

菲希尔XDLM237 X射线镀层测厚仪

全自动电动样品台（237 型号核心区别）

三轴可编程电动：XY+Z 全伺服驱动

XY 行程：255 × 235 mm；Z 轴升降 140 mm

移动速度 80 mm/s，XY 单向定位重复精度≤0.01 mm

开盖自动弹出载物台，方便上下料；支持批量点位程序扫描、面均匀度测绘

样品最大高度 140 mm；标准承重 5kg，重载模式 20kg（精度轻微下降）

腔体侧边开 C 型槽，可直接伸入整张大 PCB 板测量

4. 视觉定位系统

4 档变焦 CCD 相机（1×/2×/3×/4×）+ 激光十字定位

环形可调 LED 照明，屏幕带校准标尺，精准对准 0.1mm 微小触点

5. 分析能力

可测元素：Al (13) ~ U (92)，最多同时解析 24 种元素

镀层厚度量程：0.001 μm ~ 2500 μm

支持多层镀层解析：Au/Ni/Cu、Sn/Ni、PdNi/Au、Cr/Ni/Cu、Zn/Fe 等复合镀层

符合标准：ISO 3497、ASTM B568；整机通过德国全套辐射安全认证

6. 机身规格

外形尺寸：570 × 760 × 650 mm

整机重量：约 105 kg

供电：230V/115V 50/60Hz，最大功耗 120W

工作环境：10~40℃，湿度≤95% 无凝露