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菲希尔FISCHER XDL230
菲希尔X射线测厚仪XDL230核心规格与参数
测量能力:可测元素氯(17)至铀(92),最多同时分析 24 种元素及 23 层镀层;最小测量点约 φ0.2mm。
X射线源:钨靶 X 射线管(带铍窗口),高压三档可选(30/40/50 kV);标配 φ0.3mm 准直器,可选更小尺寸(φ0.1/0.2mm)或长方形。
探测器:比例接收器,保证高计数率和长期稳定性。
样品定位:手动 XY 平台(行程 95×150mm),电动 Z 轴(行程 140mm);配高分辨率 CCD 彩色摄像头(40x-160x 放大)和激光定位点。
软件:配套 WinFTM 软件,基于基本参数法,无需标准片即可分析;可选 BASIC 版本支持多元素同时测定。
整机参数:台式向上开门,重量约 107kg,功率最大 120W,保护等级 IP40。
主要用途
电子/PCB:测量线路板铜厚、金手指(Au/Ni/Cu)、连接器引脚镀层。
电镀/五金:测量装饰性镀铬、镀锌、镀镍、镀金、镀银,以及大规模生产的电镀部件。
材料分析:分析电镀溶液、特殊钢材成分(如检测 A4 不锈钢中的钼)。