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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230测量性能
1. 厚度范围:纳米级到微米级多层镀层
2. 精度:镀层≥0.5 μm 时顶层测量误差≤5%;重复性变异系数<0.5%
3. 基本参数法 FP:内置纯元素谱库,可无标片进行初步测量;搭配标准片进一步提升精度
4. MQ 质量因子:判断镀层模型与实际样品匹配度,规避模型选错带来的错误数据
5. 软件:WinFTM Basic,镀层厚度、元素含量、统计、报告输出;还支持电镀液溶液成分分析
典型应用场景
- 电镀行业:Zn‑Fe、Cu‑Ni‑Cr 装饰镀层、三元铬、镍、金、银、锡镀层
- 电子连接器:Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu 端子镀层
- PCB 线路板:焊盘镀金、镍金、沉金厚度检测
- 大批量零部件来料、制程质控;异形、高低落差工件(得益于 DCM 补偿)
- 电镀药水金属成分分析(选配配件)