菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理，FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德国菲希尔 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚及材料分析系统，专为工业质量控制、来料检验和生产监控设计，采用从上往下的测量方向，便于分析形状不规则的样品。

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是德国菲希尔（Fischer）出品的高性能、能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）镀层测厚与材料分析仪，主打手动 XY 平台 + 电动 Z 轴，专为工业质量控制中的高精度、无损检测设计。

菲希尔代理X射线镀层测厚仪XDAL237，典型应用行业 连接器 / 接插件：端子镀金、镀钯镍、预镀镍、镀锡多层结构 PCB/FPC 半导体：引线框架、焊盘超薄金层、化学镍金 ENIG、ENEPIG 电镀行业：ABS 塑料 Cu/Ni/Cr 三层装饰镀 电子元器件：传感器、弹片贵金属薄层管控 实验室第三方检测：同时做镀层厚度 + 基材 / 镀层成分分析

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菲希尔FISCHER X射线XULM240，基于 X 射线荧光光谱技术，X 射线激发样品镀层产生特征荧光，通过检测荧光强度结合基本参数法（FP 法） 计算镀层厚度 / 元素成分；全程无损、无需破坏样品。主打微聚焦测量，特别适合电子接插件、PCB、珠宝钟表、精密电镀件等微小结构的检测。

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菲希尔XDLM237 X射线镀层测厚仪，微聚焦全自动 X 射线荧光镀层测厚仪（EDXRF），XDLM 系列顶配自动化机型，M 代表Microfocus 微聚焦光管，主打微小触点、连接器、PCB 精细镀层无损测厚 + 合金成分分析，支持大批量全自动扫描检测，测量光束从上往下垂直照射，适配异形、凸起、腔体零件

菲希尔涂层非接触X射线测厚仪 菲希尔涂层非接触 X 射线测厚仪基于 X 射线与物质的相互作用原理。当 X 射线照射到被测物体表面时，一部分 X 射线会被涂层吸收和散射，另一部分则会穿透涂层到达基体。通过测量穿透涂层的 X 射线强度，并与已知厚度的标准样品进行对比，就可以精确计算出涂层的厚度。

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230测厚仪，菲希尔XDL230 是德国Helmut Fischer集团旗下的一款能量色散型X射线荧光（ED-XRF）镀层测厚及材料分析仪，型号为FISCHERSCOPE X-RAY XDL230