菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHER XDL230，菲希尔XDL230 是台式能量色散 XRF 镀层测厚分析仪，XDL 系列中端机型，手动 XY 平台 + 电动 Z 轴，主打复杂异形件、多层镀层无损测厚，兼容镀层测厚 + 材料成分分析，符合 ISO3497、ASTM B568 标准

菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHER XDL230

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230核心硬件配置

1. 样品平台

- 手动 XY 工作台：行程 95 × 150 mm；工作台面 420 × 450 mm

- 电动 Z 轴：行程 140 mm，支持自动 / 手动聚焦

- DCM 距离补偿：0‑80 mm 测量距离补偿，高低落差、深腔、弯头零件无需垫高找平，异形件测量优势大

2. X 射线系统

- X 光管高压：30 kV / 40 kV / 50 kV 三档可调

- 标配准直器 φ0.3 mm；可选 φ0.1 mm、φ0.2 mm、狭缝准直器；最小光斑约 0.2 mm

- 探测器：比例计数管，计数率高、测量速度快、维护成本低

- 高清彩色视频摄像头，十字瞄准，可视化定位测点

3. 软件：WinFTM® V6，镀层建模、数据存储、报表导出、MQ 匹配校验

测量能力

- 可测元素：Cl (17)～U (92)，覆盖 Zn、Ni、Cu、Cr、Au、Ag、Sn、Pd 等电镀常用金属

- 镀层：最多23 层复合镀层，同时识别 24 种元素

- 精度：镀层≥0.5 μm，顶层测量误差≤5%

- FP 基本参数法（无标样测量）：内置 12 种纯元素谱库，新工艺可不用定制标准片；MQ 值判断镀层模型与样品匹配度，防止模型选错误测

- 标配 12 块基准标准片（Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr）

- 支持固体样品、电镀液溶液成分分析