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菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER

德国 Helmut‑Fischer 台式 X 射线荧光（EDXRF）镀层测厚 & 材料分析仪，自上而下照射测量，主打异形件、电镀件、PCB 无损测厚，手动 XY 工作台 + 电动 Z 轴，XDL 系列中端主力机型。

菲希尔X射线测厚仪XDL230核心硬件配置

工作台：手动 XY 移动平台，马达驱动 Z 轴（0‑80mm 行程），DCM 距离补偿，高低落差、异形工件不用严格调平即可测量

X 射线管：钨靶铍窗，高压 30/40/50kV 三档

探测器：正比计数管，高计数率，测量速度快

测量光斑：标配 0.3mm 准直器；可选 0.1/0.2mm，最小光斑≈0.2mm

成像：彩色 CCD 高清摄像头，1‑4 倍数码变焦、十字标线、激光定位辅助；C 型开槽舱体，超长 PCB 可直接伸入舱内测量

软件：WinFTM，基本参数法，无标样也可测镀层 / 成分，支持报告导出、SPC 统计；元素检测范围 Ti (22)‑U (92)，最多同时测 24 种元素

外形尺寸：570×760×650 mm，整机重量 107 kg；功率最大 120W；防护型 X 光机，符合德国 RöV 放射法规认证