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菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理

菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理

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菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理,FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德国菲希尔 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚及材料分析系统,专为工业质量控制、来料检验和生产监控设计,采用从上往下的测量方向,便于分析形状不规则的样品。

菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理的详细资料:

菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230核心技术特点

无标片测量能力:采用菲希尔基本参数法 (FP),多数样品无需标准片即可直接测量,大幅提升检测效率

距离补偿技术 (DCM):可实现 0-80mm 深度腔体样品的远距离对焦测量,解决复杂形状样品测量难题

稳定性:长期校准稳定性高,减少频繁校准需求,降低维护成本

三档高压调节:X 射线发生器提供 30kV/40kV/50kV 三档选择,适配不同材质与镀层厚度

灵活准直系统:标配 φ0.3mm 圆形准直器满足微区检测需求

比例接收器技术:提高测量精度和重复性,重现性变异系数 < 0.5%

菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER代理



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