菲希尔XULM240 FISCHER代理，菲希尔代理，FISCHER X射线镀层测厚仪，FISCHER

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心技术与工作原理

测量原理：X 射线荧光法 (XRF)，通过 X 射线激发样品表面镀层，分析荧光信号强度反推镀层厚度与元素成分，实现非破坏性检测

关键组件：

可选：带玻璃窗口或铍窗口的钨靶微聚焦 X 射线管（ 50kV/50W）

比例计数器探测器（高计数率，提升测量速度与精度）

4 个自动切换准直器（0.05×0.05mm 至 Ø0.3mm）+ 3 个自动切换基本滤片

内置 500 万像素彩色视频显微镜（38x-184x 变焦），定位精度达微米级

菲希尔X射线测厚仪关键技术参数

参数类别规格详情

测量范围镀层厚度：0.005-50μm（纳米级精度）

测量精度Au>0.1μm 时：标准片校准 <±5%，无标样 <±10%；80nm 金镀层重复精度达 2.5nm

测量点尺寸最小 0.05×0.05mm（微聚焦管），适配微小零件与精细结构

样品高度17cm，测量距离 0-27.5mm 可调

工作台配置固定支撑台 / 手动 XY 工作台，可选电动 XY 自动定位

软件系统WinFTM® 专业分析软件，支持数据实时传输、报告生成与导出

设计标准符合 DIN ISO 3497 与 ASTM B 568 国际标准