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菲希尔代理X射线镀层测厚仪XDAL237
  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-30
  • 访  问  量:2597
简要描述:

菲希尔代理X射线镀层测厚仪XDAL237,典型应用行业
连接器 / 接插件:端子镀金、镀钯镍、预镀镍、镀锡多层结构
PCB/FPC 半导体:引线框架、焊盘超薄金层、化学镍金 ENIG、ENEPIG
电镀行业:ABS 塑料 Cu/Ni/Cr 三层装饰镀
电子元器件:传感器、弹片贵金属薄层管控
实验室第三方检测:同时做镀层厚度 + 基材 / 镀层成分分析

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产品详情

菲希尔代理X射线镀层测厚仪XDAL237

菲希尔X射线测厚仪XDAL237核心定位

自上而下照射、电动 XY 自动化平台机型

面向超薄多层镀层无损检测 + 元素成分分析;

标配硅 PIN 半导体探测器(对比 XDLM237 比例计数器,能量分辨率大幅提升,适合薄层、相邻元素区分);

237 = 可编程电动 XY 工作台版本(同系列 231 为手动台)。

区分要点:

XULM 系列:自下而上照射、手动工作台,紧凑型,侧重经济型微小样品

XDAL 系列:自上而下测量,支持大板 C 型槽进出,可选电动平台,自动化、超薄镀层优先

关键硬件参数

X 射线源

钨靶微聚焦管 50kV / 50W;

4 档自动切换准直器(最小光斑 φ0.15 mm);

3 档自动初级滤片(Al / Ni / 无滤片)。

探测器配置(两大可选)

标准:帕尔贴制冷硅 PIN 探测器,能量分辨率≤200eV,检测元素 S (16)~U (92)

升级选配:SDD 硅漂移探测器,≤160eV,元素 Al (13)~U (92),可兼顾 RoHS 有害物质筛查


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