菲希尔FISCHER X射线XULM240，基于 X 射线荧光光谱技术，X 射线激发样品镀层产生特征荧光，通过检测荧光强度结合基本参数法（FP 法）计算镀层厚度 / 元素成分；全程无损、无需破坏样品。主打微聚焦测量，特别适合电子接插件、PCB、珠宝钟表、精密电镀件等微小结构的检测。

Name: 菲希尔FISCHER X射线XULM240
Brand: Helmut Fischer/德国菲希尔
Availability: InStock

在线咨询

联系电话：02158951091

产品详情

菲希尔FISCHER X射线XULM240

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240关键技术规格

X 射线源：50 kV/50 W 钨靶微聚焦 X 射线管；

准直器与滤片：4 个电动切换准直器（最小 0.05×0.05 mm），3 个自动切换初级滤片；最小测量点约 0.09×0.09 mm；

探测器：比例计数管，高计数率，缩短测量时间；

观测系统：500 万像素彩色视频显微镜，38×–184× 变焦，可实时观察测量点；

样品空间：样品高度 170 mm，测量距离 0–27.5 mm 可调；

精度表现：Au>0.1 μm 时，标样校准误差 <±5%，无标样 <±10%；80 nm 金镀层重复精度达 2.5 nm，COV<5%；

软件：配套 WinFTM® 专业软件，支持数据实时传输、自动校准、统计分析、自定义报告导出；

安全：通过型式批准的全防护设备，符合 RoV 等法规要求。

在线咨询