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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的详细资料:

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心功能与亮点

DCM 测量距离补偿技术:支持 0~80mm 远距离对焦,轻松应对腔体内部或复杂形状样品(如深孔、凹槽)的测量需求

多镀层结构分析:可测量单层、多层及复合镀层(如 Au/Ni/Cu/Fe、Sn/Pb、Cr/Ni/Cu 等),同时获取各层厚度与成分信息

WinFTM® 专业软件:提供直观操作界面、数据管理、统计分析、报告生成等功能,支持多种测量模式与校准方法Helmut Fischer

高灵活性设计:

手动 XY 工作台便于快速定位单个或多个样品

宽大样品也可进行测量,增强通用性

可更换准直器与滤光片系统,适配不同应用场景

安全防护:配备安全联锁装置,保护门开启时自动切断 X 射线,符合国际辐射安全标准

典型应用领域

电子行业:印刷电路板 (PCB) 镀层测量(如金、镍、铜、锡等)、连接器镀层质量控制

电镀工业:装饰性镀层(如铬、镍、铜)与功能性镀层(如硬铬、化学镍)的厚度监控

汽车与航空航天:零部件防护镀层(如锌、镉、锡)测量,确保耐腐蚀性与使用寿命

精密制造:小型精密零件、模具表面镀层测量,最小可测量直径 0.3mm 样品

材料分析:合金成分定性定量分析、金属材料中有害元素检测

质量控制:进料检验、过程控制、成品检测的全流程质量保证



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