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菲希尔XUL系列荧光测厚仪信息

更新时间:2025-08-25      浏览次数:472

FISCHERSCOPE X - RAY XUL 系列是紧凑、多功能的 XRF 测量设备,适用于非破坏性涂层厚度测量和材料分析。其 X 射线管和探测器系统位于测量台下部,测量方向从下往上,这为测量各种不同几何外形的小工件提供了便利。例如螺丝、螺母、螺栓或各类电连接器等小工件,多数情况下可直接将其表面放置于测量台上,避免了从上往下测量系统中需要的测量距离调整,测试点会自动调整至正确距离,加快了测量过程,还避免了因工件定位不佳造成的测量误差。

该系列仪器通过集成的比例计数管检测器,可进行快速测量,尤其适用于大测量距离和复杂形状的样品,即便测量点很小也能高效完成测量。同时,XUL 系列具备出色的精确性和长期稳定性,明显减少了校准仪器所需的时间和精力。依靠菲希尔的基本参数法,可在没有校验标准片校正的情况下,分析固、液态样品的成分并测量样品的镀层厚度。


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