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XDL 系列X荧光射线测厚仪信息
点击次数:31 更新时间:2025-08-25
XDL 系列设计为界面友好的台式测量仪器,根据预期用途分为不同版本:
XDL 210 型:配备固定式工作台与固定位置的 Z 轴系统。
XDL 220 型:采用固定式工作台,搭配马达驱动的 Z 轴系统。
XDL 230 型:设有可手动操控的 X/Y 工作台,以及马达驱动的 Z 轴升降系统。手动操作的 XY 工作台方便对样品位置进行调整,马达驱动的 Z 轴系统可精准控制测量高度。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大放大功能,可精确定位测量位置,通过视频窗口还能实时观察测量过程和进度,仪器配备的激光点可辅助定位,快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为面积大而形状扁平的样品设计,使仪器能够测量比测量箱更大的样品,例如大型印制电路板。带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并可精确调整测量点。
XDL 240 型:配备马达驱动的 X/Y 工作台,保护门开启时,工作台自动移到放置样品的位置,搭配马达驱动的可编程 Z 轴升降系统,可实现自动化操作,提高测量效率。