产品特点

优化设计：为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计，配备固定的准直器和基本滤片，适用于贵金属分析。

测量精度高：配备高分辨率硅漂移探测器（SDD），适用于更复杂的多元素分析，能实现高精度测量和良好的检测灵敏度。重复性对于金≤0.5‰，测量时间 60 秒。

测量方向合理：由下至上的测量方向，可简便地实现样品定位。

稳定性好：具有出色的精度和长期稳定性，降低了重新校准的必要性，节省时间和精力。

分析方法先进：Fischer 的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及涂层系统，无需校准。

技术参数

元素范围：硫 S（16）至铀 U（92），同时多达 24 种元素。

设计：台式单元，带有向上打开的罩。

X 射线管：带铍窗的微焦点钨管。

高电压：3 档，分别为 30kV，40kV，50kV；最大阳极电流 1mA。

光圈（准直仪）：直径 1mm（39mils），可选直径 2mm（79mils）或直径 0.6mm（23.6mils）。

应用领域

珠宝行业：可分析珠宝中各种贵金属及其合金的成分，确定其纯度和品质，也可测量珠宝表面涂层厚度，评估涂层质量。

硬币制造：用于分析硬币的金属成分，确保其符合标准，同时可检测硬币表面的镀层厚度，保证镀层均匀性和质量。

贵金属加工：在贵金属冶炼、加工过程中，对原材料、半成品和成品进行成分分析和涂层厚度测量，实现质量控制。

牙科领域：分析牙科合金的成分，确保其生物相容性和性能符合要求，也可用于测量牙科修复体表面涂层厚度