菲希尔荧光测厚仪XULM240

XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造*佳的激励条件。

德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪应用实例：

XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。