菲希尔XDL230系列测厚仪射线源信息

更新时间：2025-04-23

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德国菲希尔测厚仪 XDL230，荧光射线测厚仪，原理是基于X射线穿透材料时强度的衰减与被测物厚度之间的定量关系，通过测量衰减后的射线强度计算厚度值‌。

因为是非接触式的，所以X射线测厚仪适用于高速生产线（如轧钢、薄膜制造）的实时监测。

技术优势

‌高适应性‌：通过调整X射线能量（如改变管电压）可匹配不同材质和厚度的测量需求。

‌实时反馈‌：与控制系统联动，实现生产过程中的自动厚度调整。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板