菲希尔XDL240荧光测厚仪规格用途

更新时间：2025-04-15

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菲希尔XDL240荧光测厚仪规格用途

XDL 系列仪器有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

是一款用户界面友好的台式测量仪器。根据工作台的运行模式以及固定/可调节的 Z 轴系统，仪器被设定为不的同型号，以满足实际应用的不同需求。

XDL240：马达驱动的 X-Y 工作台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的Z轴系统，可编程运行。

配有马达驱动 X-Y 工作台的型号还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。

设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)，用于测定超薄镀层和溶液分析。

元素范围：从元素氯(17) 到铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时，最多可同时测定24种元素

设计理念：台式仪器，测量门向上开启

测量方向：由上往下