X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230  

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层，例如:装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

分析电镀溶液

XDL系列仪器有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。