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FISCHER X射线测厚仪 XAN215
  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-09-01
  • 访  问  量:2462
简要描述:

FISCHER X射线测厚仪 XAN215,:德国菲希尔入门级台式 EDXRF,镀层测厚 + 贵金属成分分析二合一,无损检测,主打珠宝首饰、贵金属电镀行业。
原理:能量色散 X 射线荧光 EDXRF + Fischer FP 基本参数法,不需要大量标样即可测镀层厚度与合金成分,符合 DIN ISO 3497、ASTM B568。

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产品详情

FISCHER X射线测厚仪 XAN215

菲希尔X射线测厚仪 XAN215典型应用场景

1. 贵金属成分分析:K 金、铂金、银、钯、牙科合金、钱币、金条、首饰,测纯度、K 值。

2. 镀层厚度测量(单层 / 多层):镀金、镀铑、镀银等首饰电镀层。

3. 贵金属回收、质检实验室、首饰厂来料与成品质控。

 性能特点

1. 无损,样品不破坏;常规测量 10‑30 s 出结果。

2. FP 基本参数法,减少对标样依赖,长期稳定性好,校准频次低。

3. 视频十字光标,肉眼可确认测量点位,适合异形首饰。

4. 上掀式防护盖,放取样品方便。

同系列对比快速区分

- XAN215:Si‑PIN,入门,贵金属 + 镀层,不能 RoHS

- XAN220:基础款,可选手动 XY 移动平台

- XAN250:SDD 硅漂移探测器,支持 RoHS 筛查,计数率更高,速度更快


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