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FISCHER X射线测厚仪 XAN215
菲希尔X射线测厚仪 XAN215典型应用场景
1. 贵金属成分分析:K 金、铂金、银、钯、牙科合金、钱币、金条、首饰,测纯度、K 值。
2. 镀层厚度测量(单层 / 多层):镀金、镀铑、镀银等首饰电镀层。
3. 贵金属回收、质检实验室、首饰厂来料与成品质控。
性能特点
1. 无损,样品不破坏;常规测量 10‑30 s 出结果。
2. FP 基本参数法,减少对标样依赖,长期稳定性好,校准频次低。
3. 视频十字光标,肉眼可确认测量点位,适合异形首饰。
4. 上掀式防护盖,放取样品方便。
同系列对比快速区分
- XAN215:Si‑PIN,入门,贵金属 + 镀层,不能 RoHS
- XAN220:基础款,可选手动 XY 移动平台
- XAN250:SDD 硅漂移探测器,支持 RoHS 筛查,计数率更高,速度更快