菲希尔、X射线测厚仪FISCHER XDL230，德国 Helmut Fischer 台式 XRF 镀层测厚仪，手动 XY 平台 + 电动 Z 轴；定位实验室、产线质检、来料检验，适合中小批量、多点位手动测量；介于简易款 XDL220 与全自动 XDL240 之间，兼顾灵活性与性价比。
测量原理：能量色散 X 射线荧光（XRF），无损检测，符合 ISO 3497、ASTM B568 标准。

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