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菲希尔XDL230
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心硬件配置
1. X 射线激发系统
X 光管:标配钨靶热稳定 X 射线管,可选钼 / 铬靶适配轻金属镀层
高压三档可调:30kV / 40kV / 50kV,最大管电流 1mA
准直器(光斑):标配多规格可选,最小光斑Φ0.2mm,可测微小焊盘、连接器引脚
DCM 距离补偿:Z 轴 0~80mm 任意高度自动补偿,盲孔、深槽、高低差工件无需反复校准距离
2. 探测器与检测能力
高计数率正比计数器 / 可选 SDD 硅漂移探测器,多层镀层、轻元素(Al/Zn/Mg)精准解析
元素检测范围:氯 Cl (17)~ 铀 U (92),单次测量同时分析最多 24 种元素
支持多层复合镀层一次性测厚 + 成分分析(如 Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Zn-Fe 合金)
3. 样品台与定位系统
XY:手动精密位移台,激光十字定位辅助,微小点位快速对准
Z 轴:电机自动升降,0~80mm 行程,自动对焦
高清彩色 CCD 变焦相机(1~4 倍数码放大),十字标尺实时可视化测量区域
样品最大高度:140mm,整机重量 105kg,尺寸 570×760×650mm,230V 工业供电
4. 安全防护
整机全封闭辐射防护,开盖断电联锁、多重辐射报警,符合 CE、DIN X 射线安全标准,日常操作无辐射隐患。