菲希尔X射线测厚仪XDV-SDD，德国 Helmut Fischer 台式 EDXRF 测厚 / 材料分析仪，超薄镀层 + 痕量 RoHS 二合一机型，主打高精度、自动化批量检测，适配实验室研发、产线品质管控、第三方检测，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 国际镀层标准，具备欧盟 X 光辐射安全认证。

菲希尔X射线测厚仪XDV-SDD

菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD核心硬件配置

1. 探测核心（整机优势）

50mm² 大面积 SDD 硅漂移探测器，半导体制冷，Mn-Kα 分辨率≤140eV，低能元素灵敏度拉满，可直接测空气中 Al、P，超薄镀层检出极限达 2nm 金层

自研DPP + 数字脉冲处理器：超高计数率，同等精度下测量时长缩短 50%，批量检测效率大幅提升，重复性更稳定

2. X 射线激发系统

钨靶微聚焦 X 射线管，三档高压 10/30/50kV 自动切换

4 档电动切换准直器：最小光斑 φ0.25mm，最大 3mm 大光斑（大面积样品提速）

6 组自动切换滤光片，针对镍磷、贵金属、多层镀层优化激发条件

3. 自动测量平台

可编程高精度 XY 电动工作台，定位精度＜5μm，支持矩阵批量自动扫描

电动 Z 轴升降，测量距离 0–80mm，DCM 距离补偿，高低异形工件无需反复校准

样品最大容纳高度 140mm，兼容大尺寸、异形五金、PCB、晶圆

高清彩色 CCD 显微镜头 + 1 级安全激光定位，十字标线可视化定点测量

4. 基础参数

可测元素：Al (13) ~ U (92)，最多同步分析 24 种元素

成分检出下限：低至 ppm 级，塑料中 Pb 检出≈2ppm，满足 RoHS 严苛限值

整机重量：45kg，全封闭辐射防护仓，开盖自动断 X 光

配套软件：WinFTM® 专业分析软件，镀层厚度、元素含量、图谱、报表一体化输出