两种方法，校准修正Olympus相控阵仪
一、Olympus相控阵仪声速校准
原理:相控阵扇形扫查、线性扫查分别与A型扫描超声检测斜探头、直探头校准的方法相似。扇形扫查的声束入射到两个半径为50mm与100m同心圆,线性扫查声束入射两个不同厚度的试块,系统通过入射到两个反射体的发射与接收时间关系计算出声速。校准声速的目的是让仪器计算的声速与被检工件声速相近,减少测量误差。
(1)扇形扫查:调节角度指针至设置的扇形扫查范围中心角度,例如:扇形扫查范围为30°-70°,调节角度指针至50°。将探头至于CSK-IA试块,前后移动探头找到两个同心半圆的大反射回波,固定探头,分别移动闸门套住回波依次“得到位”,后确定完成声速校准。
(2)线性扫查:移动探头找到探头大回波,闸门依次套住回波“得到位”,后确定完成声速校准。
注意事项:校准声速的过程中应注意温度变化,应事先了解被检测材料的声学特性等。
二、Olympus相控阵仪延迟校准
本人对相控阵延迟的理解:相控阵的超声波脉冲发射装置由探头晶片与楔块组成,延迟激发晶片发射超声波形成扇形声束,各角度的声束经过楔块与耦合层到达工件接触面所需要的时间,如图1,红色线为各角度声束的延迟。虽然在仪器初始设置过程中输入了探头与楔块等相关参数,但是输入的参数与实际参数的误差,楔块磨损,扫查角度,耦合剂等因素都会影响实际的延迟数值。 上一篇 Olympus相控阵仪具有更快更高的检测效率 下一篇 Olympus测厚仪的分类介绍