菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDLM237信息

更新时间：2026-09-17

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菲希尔 XDLM237 是一款专为微小结构、超薄镀层设计的全自动能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）测厚仪。它的核心优势在于微聚焦光管配合全自动样品台，适合电子元器件、接插件、PCB 等大批量、高精度检测场景。

核心硬件与自动化

微聚焦 X 射线管：采用微聚焦钨靶光管（“M"即代表 Microfocus），最小测量光斑可达 0.05×0.05 mm，能精准定位接插件针尖等微小区域。

全自动样品台：区别于同系列的 231 型号，XDLM237 标配马达驱动可编程 X/Y/Z 轴。打开防护罩时，样品台会自动移出，方便快速装卸，特别适合批量自动化检测。

视觉与定位：配备高分辨率 CCD 摄像头（放大倍率 40x-160x），配合激光定位，能直观、精确地找到测量点。