FISCHER X射线测厚仪 XULM240信息

更新时间：2026-07-14

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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心硬件配置

1. X 射线发射系统

光源：50kV/50W 钨靶微聚焦 X 射线管，焦点≤50μm，三档高压 30/40/50kV 自动适配厚薄镀层

准直器（4 组电动自动切换）：标配 Ø0.1mm、Ø0.2mm、0.3×0.05mm；可选 0.05×0.05mm 超小微斑

滤片（3 组自动切换）：无滤片、铝滤片、镍滤片，适配金、镍、锡、锌等不同镀层元素

探测器：比例计数管，高计数率（数千 CPS），超薄纳米镀层快速测量

2. 样品定位与观察系统

500 万像素彩色工业显微镜，38×~184× 连续光学变焦，LED 可调光源，实时标记测量点位

手动 XY 精密工作台：行程 30×40mm，定位精度 ±0.005mm，微小触点、线材精准对位

独特自下而上 X 射线照射，C 型开槽大样品舱，最大样品高度 174mm，螺丝、线材、大板 PCB 均可放置

测量距离 0~27.5mm，DCM 距离补偿，高低不平样品无需垫平即可稳定测量

3. 软件系统 WinFTM®

标配 LIGHT 版，可选 BASIC/PDM/SUPER 专业模块

支持 100 组测量程序预设，自动存储数据、统计 CPK、均值、标准差、变异系数 COV

报告导出 Excel/PDF，符合 ISO 3497、ASTM B568、RoHS 射线安全规范