菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500双功能一体化测量

单次测量同时获取涂层厚度与材料成分数据，无需重复操作

支持多层涂层(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 与合金涂层(如锌镍合金) 的精确分析

采用菲希尔基本参数法 (FP 法)，可在无需校准标样的情况下分析固、液态样品

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度测量系统

高分辨率硅漂移检测器 (SDD)，提供分析精度与探测灵敏度，尤其适合超薄镀层测量

3 点支撑设计，确保每次测量时位置准确、仪器稳定，提升重复性精度

测量点直径3 毫米，适合小面积样品检测