菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入门级经济型 X 射线荧光测厚仪，专为珠宝、钱币和贵金属的无损成分分析与镀层厚度测量设计，具备高性价比、操作简便、精度可靠的特点，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN215核心功能与测量能力

1. 分析能力

成分分析：可分析金、银、铂、钯、铑等贵金属及其合金，包括黄 / 白金、K 金等

镀层测厚：适用于单层 / 多层镀层系统，如金镀层、铑镀层等厚度测量

基础参数法：无需校准即可分析固体、液体样品及镀层系统，提高测量灵活性

2. 操作与软件系统

控制软件：标配 WinFTM® BASIC 软件，可选 WinFTM® SUPER 高级版

数据处理：PC 端操作，支持数据管理、报告生成、结果可视化

用户交互：直观界面，简化测量流程，减少培训成本