菲希尔X射线测厚仪XDL230关键技术参数

1. X 射线源与探测器

X 射线管：带铍窗口的钨靶 X 射线管，可选微聚焦型

高压调节：30kV、40kV、50kV 三档可调，功率 50W

探测器：比例接收器 (Proportional Counter Tube)，确保高计数率与快速测量

准直器：标准 φ0.3mm，可选 φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 矩形

最小测量光斑：约 0.2mm (使用 φ0.1mm 准直器时)

滤光片：固定或 3 个自动切换选项

2. 测量能力

元素范围：氯 (Cl, 17) 至铀 (U, 92)

同时测量元素数：最多 24 种 (需 WinFTM® BASIC 软件)

镀层测量标准：符合 ISO 3497 与 ASTM B 568

测量方法：FISCHER 基本参数法 (FP)，支持无标样测量

稳定性：长期稳定性优异，减少校准频率

FISCHER代理核心功能特点

无损检测：非接触、无损伤测量，保护样品原貌

DCM 技术：测量距离补偿方法，可在 0-80mm 范围内自由选择测量距离，适配复杂形状样品与腔体内部测量

精准定位：高分辨率彩色 CCD 摄像头 (40-160 倍放大)+ 激光定位辅助，快速精确对准测量点

智能分析：内置基本参数法，无需标准片即可分析镀层系统、固体与液体样品

多模式测量：支持镀层厚度测量、材料成分分析、电镀槽液分析 (需配套附件)

灵活样品适应：可测量平面、曲面、复杂形状样品，适用于各种尺寸工件