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Surtronic DUO粗糙度仪量程信息
点击次数：28 更新时间：2025-11-28
泰勒霍普森旗下经典便携式粗糙度测量设备，Surtronic DUO以精准性与通用性立足工业检测领域，其核心参数与测量精度契合现代精密制造的质量管控需求。该设备搭载耐磨金刚石测针（半径5μm）与高灵敏度压电传感器，垂直位移分辨率达0.01μm，Ra参数测量量程40μm，Rz、Rp等扩展参数量程可达199μm，满足ISO 4287等国际标准规定的多参数测量要求。
在测量精度方面，Surtronic DUO，粗糙度标准（Ra）测量精度达±(2%+0.004μm)，工件单次测量误差控制在±3%以内，噪声仅0.02μm，搭配自动校准程序，确保数据具备良好的可追溯性。这种高精度特性使其在多行业场景中均能稳定发挥作用：航空航天领域可精准检测发动机叶片、复合材料结构等关键部件，其中激光模式可实现复合材料无损评估，触针模式保障金属部件测量精度；汽车制造环节中，从发动机缸体到传动齿轮、塑料密封件，均可通过设备实现生产线实时检测，大幅缩短检测周期。
