德国菲希尔XDL237荧光射线测厚仪简介

德国菲希尔（HELMUT FISCHER GmbH）作为材料测试与分析仪器制造商，其推出的XDL237X射线荧光测厚仪在精密涂层厚度测量领域享有声誉。该设备专为多层、合金及复杂镀层系统设计，适用于电子、汽车、航空航天、五金电镀等高精度制造行业。

XDL237采用先进的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，可在不破坏样品的前提下，快速、准确地测定从纳米级到微米级的金属或非金属涂层厚度。其核心优势在于可同时分析多达24种元素，并支持多达五层镀层结构的同步测量，例如常见的Cu/Ni/Cr、Sn/Pb、Au/Ni/Cu等复合镀层体系。仪器配备高分辨率硅漂移探测器（SDD），显著提升了检测灵敏度和重复性。

此外，XDL237备全自动测量平台，支持大尺寸样品自动定位与扫描，配合FISCHER WinFTM® V6专业软件，用户可轻松完成数据采集、统计分析与报告生成。设备符合ISO 3497、ASTM B568等国际标准，确保测量结果具有可追溯性。