FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 是一款便携式 X 射线荧光（XRF）设备，专为涂层厚度测量与合金材料分析设计。当样品无法送至仪器处时，这款设备可直接前往样品所在地进行检测。

虽体型小巧，但它的性能堪比实验室中的各类 X 射线荧光仪器。其搭载的现代硅漂移探测器（SDD），能在短短几秒内确保测量结果准确无误，即便面对涉及多层结构与多种合金的复杂测量任务，也能可靠完成。在测量涂层厚度时，保证设备与样品间距离恒定、光路笔直至关重要，而该设备的三点支撑设计，可实现安全稳定架设，保障涂层测量精度，测量结果还能直接在设备显示屏上呈现。

数据后续分析方面，XAN 500 配备完整的 WinFTM® 软件套件。基于基本参数分析的涂层厚度测量与材料分析功能，无需预先校准（即无标样）就能精准测量；若需最高精度，也可借助德国国家认证机构（DAkkS）认证的标准样品，快速便捷地针对特定测量任务完成设备校准。