泰勒霍普森粗糙度仪 Surtronic S-116 是一款高精度、便携式表面粗糙度测量仪，专为工业现场和实验室环境设计。该设备采用先进的传感器技术，能够快速、准确地测量Ra、Rz、Rq、Rt等20余种国际标准粗糙度参数，满足ISO 4287、ISO 13565及ASME B46.1等规范要求。Surtronic S-116 配备3.5英寸彩色触摸屏，操作界面直观友好，支持多语言切换，便于全球用户使用。其内置大容量存储可保存多达1000组测量数据，并可通过USB或蓝牙接口轻松导出至PC或打印机。仪器采用可充电锂电池供电，续航时间长达15小时，适合长时间现场作业。探头采用高刚性设计，测量范围达0.005–50 μm，垂直分辨率高达1 nm，确保在各种材质（如金属、塑料、陶瓷）表面均能获得稳定可靠的测量结果。Surtronic S-116 还具备自动校准功能和防尘防溅结构（IP54等级），适用于严苛的生产环境，是质量控制、研发和维护工程师的理想选择。