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菲希尔荧光射线测厚仪特点信息
点击次数：49 更新时间：2025-09-12
灵活的测量距离
测量距离范围为 0 - 80mm，并配备 DCM（Distance Compensation Method）测量距离补偿技术。传统 X 射线荧光设备要求样品表面与探测器保持固定距离，否则会影响检测精度，而 XDL 系列的 DCM 技术通过算法补偿，使得在该测量距离范围内都能保持稳定的检测精度。这一特性在实际应用中具有重要意义，特别是在检测表面不平整或有元器件凸起的样品（如印刷电路板）时，无需复杂的样品预处理即可轻松完成测量。
高分辨率成像与精准定位
内置高分辨率 CCD 彩色摄像头，放大倍数通常在 40x - 160x 之间，能够清晰观察样品表面，并精确定位测量区域。视频界面中一般还配备有十字线、经过校准的刻度以及测量点尺寸指示，同时搭配可调节亮度的 LED 照明系统和激光定位点，辅助快速、准确地对准样品测量位置，大大提高了操作的便利性和测量的准确性。
大尺寸样品适应性
部分型号（如 XDL 230）的测量箱底部设有开槽，专为面积大而形状扁平的样品设计，使得仪器可以测量比测量箱更长和更宽的样品，如大型的印制电路板。同时，测量室具备较大尺寸，能够容纳相当大尺寸的样品，进一步增强了对不同规格样品的检测能力。
