泰勒霍普森CCI白光干涉仪信息

更新时间：2025-09-11

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CCI光学装置融合优良的工程设计与专业软件，满足光学领域严苛的测量需求。其2048×2048像素阵列提供大视场与高分辨率，全量程分辨率高达0.1埃，RMS重复精度<0.2埃，台阶高度重复精度<0.1%，支持0.3%–100%宽范围反射率表面测量。非压电陶瓷闭环Z轴扫描（2.2mm行程，可拼接至100mm）结合FEA优化结构，确保高稳定性和精度。系统具备自动表面检测与自诊断功能，避免碰撞、降低维护成本，操作简便，减少人为误差。64位多语言分析软件（含中文、日文等）支持跨平台协作，提供3D/4D表面分析、薄膜厚度测量及批量报告生成功能，并通过ISO校准，保障数据可信度。坚固耐用的设计兼顾高性能与长期成本效益，是光学计量的理想工具。

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