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MPOR测厚仪双测量原理信息
点击次数：78 更新时间：2025-09-05
磁感应法（适用于铁基材料）：当 MPOR 测厚仪靠近铁基材料表面的涂层时，仪器内部的磁芯会产生磁场，该磁场穿过涂层与铁基材料相互作用。由于涂层的存在，磁场的强度和分布会发生改变，仪器通过检测这种磁场变化，依据磁感应原理并结合内置算法，精确计算出涂层的厚度。这种测量方法符合 DIN EN ISO 2178、ASTM D7091 等标准，特别适用于测量钢铁上较薄的涂层。
电涡流法（适用于非铁基材料）：对于非铁基材料上的涂层测量，MPOR 测厚仪利用电涡流原理。仪器产生高频交变磁场，当该磁场靠近非铁基材料表面的涂层时，会在涂层和基材中产生电涡流。电涡流的大小与涂层厚度以及基材的电导率等因素有关，仪器通过检测电涡流的变化，经过复杂运算得出涂层的准确厚度，该方法符合 DIN EN ISO 2360 标准。
