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MPOR测厚仪双测量原理信息

更新时间:2025-09-05      浏览次数:571
磁感应法(适用于铁基材料):当 MPOR 测厚仪靠近铁基材料表面的涂层时,仪器内部的磁芯会产生磁场,该磁场穿过涂层与铁基材料相互作用。由于涂层的存在,磁场的强度和分布会发生改变,仪器通过检测这种磁场变化,依据磁感应原理并结合内置算法,精确计算出涂层的厚度。这种测量方法符合 DIN EN ISO 2178、ASTM D7091 等标准,特别适用于测量钢铁上较薄的涂层。
电涡流法(适用于非铁基材料):对于非铁基材料上的涂层测量,MPOR 测厚仪利用电涡流原理。仪器产生高频交变磁场,当该磁场靠近非铁基材料表面的涂层时,会在涂层和基材中产生电涡流。电涡流的大小与涂层厚度以及基材的电导率等因素有关,仪器通过检测电涡流的变化,经过复杂运算得出涂层的准确厚度,该方法符合 DIN EN ISO 2360 标准。


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