Niton XL2 Plus 是一款专为应对严苛工业环境挑战而设计的高性能、多功能手持式X射线荧光（XRF）分析仪，旨在提供快速、准确且可靠的现场元素分析。

高灵敏度与准确性：

配备 2W X射线管 和 新一代硅漂移探测器 (SDD)，确保每次测量都具有高灵敏度和低检测限。

采用 智能基本参数法 (FP) 校正样品基体效应，确保在不同材料（如合金、矿石、土壤）上都能获得准确的结果。

坚固耐用，适应恶劣环境：

具有 IP54 防护等级，能够有效防尘、防潮，确保在潮湿、多尘的工业现场稳定运行。

配备标准的 Detector ProGuard 保护装置，可有效降低在分析尖锐物品时探测器被穿刺的风险。

操作简便，高效便捷：

拥有 简洁的触摸屏界面，支持通过触摸或可选的方向键进行快速导航，操作直观。

采用 热插拔电池 设计，可在不关机的情况下更换电池，保证长时间连续工作，提高现场工作效率。

集成 微型摄像头 和 鼻锥防护准直装置，帮助操作员精确定位测量点，确保每次测量的准确性。

多功能应用：

能够快速识别纯金属和合金牌号。

可用于检测材料中的杂质元素。

支持地球化学分析，获取矿石品位数据。

可测量单个元件层的涂层厚度。

适用于金银等贵金属的成分分析。

主要应用领域

材料验证：在生产过程中验证所使用的金属和合金。

质量保证/质量控制 (QA/QC)：在来料检验和生产过程中正确鉴别材料，确保产品符合标准。

废料回收：在废料场进行自动分拣，快速区分不同种类的金属。

涂层分析：测量金属表面镀层（如镀锌、镀铬）的厚度。

贵金属分析：用于珠宝、回收金等领域的贵金属（金、银、铂、钯等）纯度分析。

矿业与勘探：用于矿石贸易、品位控制和地球化学勘查。