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Niton 分析仪X 射线荧光技术信息
点击次数：62 更新时间：2025-07-04
Niton 分析仪依托前沿的能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术，构建起一套完整且智能的元素分析生态系统。该技术以物理学中的光电效应和特征 X 射线理论为基石，当仪器发射的高能初级 X 射线束精准轰击样品表面时，元素原子内层电子因获得足够能量被激发产生空穴，外层电子随即跃迁填补，在此过程中释放出具有 "指纹" 特征的 X 射线荧光。
仪器配备的高分辨率硅漂移探测器（SDD）采用半导体材料制成，具备纳米级的能量分辨率和超快响应速度，能够精准捕捉这些微弱的能量信号。在 Axon 技术平台的加持下，通过智能算法对原始数据进行实时降噪处理，利用机器学习模型对复杂光谱进行解卷积分析，从而有效消除元素谱线重叠干扰
