FISCHERSCOPE X-RAY XDL：高性能能量色散 X 射线测量系统

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 是一款具备广泛适用性的能量色散 X 射线测量仪器，其核心优势在于对无损厚度测量、薄涂层分析、大批量零件检测及印刷电路板（PCB）测量等场景的精准适配，同时也可用于溶液成分分析。该系列仪器在质量保证、进料检验与生产过程控制领域表现很好越，典型应用场景涵盖：

电镀批量生产部件的高精度厚度检测；

装饰性镀铬等薄涂层的微观结构与厚度分析；

电子及半导体行业功能性涂层的成分与性能评估；

印刷电路板（PCB） 的自动化批量测量；

电镀工艺中溶液成分的快速分析。