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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116测针升降信息
点击次数:87 更新时间:2025-05-29
深孔与复杂表面的粗糙度测量,一直是工业检测中的难题。泰勒霍普森 Surtronic S116 粗糙度仪凭借特设计,在这方面展现出强大实力,堪称复杂表面测量的专家。
S116 标配 50mm 测针升降装置与直角附件,这一巧妙配置使其拥有 “超长探测臂",可深入 70mm 深的孔或管道内部,无需借助额外的昂贵工装,便能轻松完成检测任务,大大提高检测效率与便捷性。仪器的防滑 V 型脚架设计匠心,无论是平滑的平面,还是圆柱、弧面等曲面,都能实现稳定安装。更为出色的是,测针具备反向测量底部结构的功能,对于形状复杂的工件,也能地进行测量,精准获取表面粗糙度数据。
在操作上,S116 同样十分便捷。具备即开即用特性,待机状态下 1 秒即可唤醒,快速开启测量工作。4.3 英寸触摸屏界面直观简洁,单页可同时清晰显示 7 个参数,并支持快捷键快速设置,操作流畅高效。屏幕支持四向旋转,即便处于高空、倒置等非常规测量角度,也能确保数据读取清晰准确,为复杂环境下的测量工作提供有力支持。