FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能实现计数率

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。