菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240仪器特点

1. 用途广泛的镀层厚度测量

• 通过组合高压和滤片，可精准测量极薄（如50 nm Au）至较厚（如100 μm Sn）的镀层，覆盖多种厚度需求 。

2. 高精度微聚焦技术

• 配备微聚焦X射线管，最小测量点可达100 μm，适用于微小结构（如连接器、触点）的精细检测 。

3. 高效计数率与稳定性

• 比例计数器支持高达数千cps（每秒计数率），确保快速测量和良好的重复精度，即使短时间测量也能保证结果可靠性 。

4. 便捷的样品放置设计

• X射线源位于测量舱底部，射线方向从下至上，结合大容量C型开槽舱体，便于放置大尺寸或扁平样品（如印刷线路板） 。

5. 灵活的测量配置

• 支持手动或自动切换准直器与滤片，适应不同镀层材料和结构（如多层镀层、同元素镀种）