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更新时间：2025-04-26 
浏览次数：806性能与设计
高性能、紧凑型台式仪器，采用能量色散型X射线荧光技术（EDXRF），支持无损测量细小工件上的镀层厚度和材料成分分析。
配备比例接收器，实现高计数率（>100 kcps），确保高精度测量和长期稳定性，显著减少校准频率。
符合DIN ISO 3497、ASTM B 568标准，并通过德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"辐射安全认证。
核心技术
基本参数法（FP法）：无需依赖校准标准片，可直接分析固体、液体样品及复杂镀层系统（如单层、双层、三层镀层，合金镀层等）。
元素检测范围：覆盖氯（Cl, 17）至铀（U, 92），最多可同时测定24种元素，适用于Cr、Ni、Cu等传统电镀层及合金成分分析。
测量方向与定位：X射线源及探测器位于下腔，测量方向自下而上，样品通过透明窗口支撑，便于大尺寸样品（如印制电路板）快速定位。
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