菲希尔代理FISCHER X-RAY XDL230的详细资料：

菲希尔代理FISCHER X-RAY XDL230

 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

比例接收器能实现计数率

由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

通用规格

设计用途能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），用于测定镀层和溶液分析。

元素范围从元素氯（17）到铀（92）

配有可选的WinFTM®BASIC软件时，可同时测定24种元素

设计理念台式仪器，测量门向上开启

测量方向由上往下

X射线源

X射线管带铍窗口的钨管

高压三档：30KV，40KV，50KV

孔径（准直器）φ0.3mm　可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm

测量点尺寸取决于测量距离及使用的准直器大小

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

小的测量点大小约φ0.2mm