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泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度仪

泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度仪

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泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度仪的详细资料:

泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度仪

Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度测量仪被广泛用于生产现场、工业厂房和检测室。Surtronic Duo II 可用于评估地面的安全性,也可帮助地面材料制造商控制生产过程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用,并且只需很少的培训。Surtronic Duo II  数字式表面粗糙度测量仪专门用于测量表面粗糙度,可与 HSE 滑倒评估软件结合使用,以检查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度测量仪的分辨率为 0.01 µm(0.4 µin),采用的粗糙度标准为 ISO 4287。

Surtronic Duo II 是一种高级便携式表面粗糙度测量仪,只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充电电池,便于在所有环境和表面进行快速、轻松和精确的现场测量。泰勒霍普森SURTRONIC DUO|粗糙度仪

Surtronic Duo II 的特点:

  • 测量 - 触觉测量按钮,适用难测到的位置

  • 分体式 - 通过滑轨和锁定装置,分为显示/控制装置和驱动装置两部分

  • 金刚石测针和压电传感器 - 带金刚石坚固耐磨的压电传感器测针,确保测量结果的可靠性。

  • 蓝牙技术 - 在驱动装置和显示/控制装置之间进行快速可靠的通信

笃挚仪器(上海)有限公司为您提供泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度仪的详细信息,包括仪器特点,应用情况技术参数等,如果您对泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度仪的信息有什么疑问,请与我司进行进一步联系,获取泰勒霍普森Surtronic DUO粗糙度仪的更多信息及*报价。

SURTRONIC DUO是英国泰勒公司 新型粗糙度仪,SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测 Ra , Rz 两种参数。 DUO 具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量,其设计可满足不同的技术与工作环境要求。
SURTRONIC DUO新型粗糙度仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可




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