菲希尔X射线测厚仪XULM240，德国 Helmut Fischer 台式微区 XRF 镀层测厚设备，主打微小元器件超薄镀层无损检测，是 PCB、连接器、电镀行业主流入门高性能机型。

菲希尔X射线测厚仪XULM240

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心硬件配置

1. X 射线发射系统

微聚焦钨靶 X 射线管，铍窗口，功率50kV/50W，3 档高压可调（30/40/50kV），焦点≤50μm

4 组电动自动切换准直器：0.05×0.05mm、Ø0.1mm、Ø0.2mm、0.3×0.05mm；最小测量光斑 0.09×0.09mm（100μm），同系列 XUL210/220 最小仅 0.51mm，微区优势明显

3 片自动切换滤片（标配：无滤片、铝、镍），可选钴 / 镍吸收片适配特殊镀层

2. 探测器与成像

比例计数管探测器，数千 CPS 高计数率，薄金层短时间测量仍稳定

500 万像素彩色工业相机，38~184 倍光学变焦，实时可视化标记测量光斑，带刻度校准显示实际光斑大小

3. 样品工作台与舱体

标配手动 XY 工作台，行程 30×40mm，定位精度 ±0.005mm，适合微小引脚、线路定位

下置式 X 射线发射（射线从下往上打样），C 型开槽大舱体，样品最大高度 174mm

测量距离 0~27.5mm 连续可调，搭载 DCM 距离补偿，高低落差工件无需反复校准

4. 安全与环境

全屏蔽防护，通过德国 X 射线法规认证，日常操作无辐射风险

工作环境：10~40℃，湿度≤95% 无凝露，整机功耗≤120W