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菲希尔X射线测厚仪XDL

菲希尔X射线测厚仪XDL

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菲希尔X射线测厚仪XDL的详细资料:

ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

菲希尔X射线测厚仪XDL 比例接收器能实现计数率

由于采用了FISCHER基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

通用规格
设计用途能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF),用于测定镀层和溶液分析。
元素范围从元素氯(17)到铀(92)
配有可选的WinFTM®BASIC软件时,可同时测定24种元素
设计理念台式仪器,测量门向上开启
测量方向由上往下
X射线源
X射线管带铍窗口的钨管
高压三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器)φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm
测量点尺寸取决于测量距离及使用的准直器大小
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
小的测量点大小约φ0.2mm



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