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公司名称:笃挚仪器(上海)有限公司
地址:上海市浦东新区外高桥保税区富特东三路526号5号楼311室
邮编:
联系人: 张经理
传真:86-021-50473901
E-mail: dooz17@qq.com
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产品展示

菲希尔X射线测厚仪XDL的详细资料:
ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
菲希尔X射线测厚仪XDL 比例接收器能实现计数率
由于采用了FISCHER基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
通用规格 | |
设计用途 | 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF),用于测定镀层和溶液分析。 |
元素范围 | 从元素氯(17)到铀(92) |
配有可选的WinFTM®BASIC软件时,可同时测定24种元素 | |
设计理念 | 台式仪器,测量门向上开启 |
测量方向 | 由上往下 |
X射线源 | |
X射线管 | 带铍窗口的钨管 |
高压 | 三档:30KV,40KV,50KV |
孔径(准直器) | φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm |
测量点尺寸 | 取决于测量距离及使用的准直器大小 |
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 | |
小的测量点大小约φ0.2mm |